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TFT-LCD Touch Mura不良的研究和改善

齐鹏 , 施园 , 刘子源

液晶与显示 doi:10.3788/YJYXS20132802.0204

Touch Mura在整个TFT-LCD制作流程中非常容易发生,并且严重影响产品性能.文章主要研究了液晶量、Sub PS设计、PS段差设计及工艺参数Total pitch对Touch Mura的影响.实验结果表明液晶量的增加能够补偿敲击偏移,减轻Touch Mura不良;Sub PS的Z字形设计由于阻挡效应能够有效减轻Touch Mura;Main PS和Sub PS的段差越大,Touch Mura margin越小;工艺参数Total Pitch越接近设计值,Touch Mura风险越小.所以在设计过程中优化液晶量和Main-Sub PS段差设计及Sub PS设计能够有效减低Touch Mura风险,此外,生产过程中对工艺参数Total pitch的管控也至关重要.

关键词: Touch Mura , 液晶量 , 柱状隔垫物 , Total Pitch

基于重压法的Touch Mura形变过程模拟

张卓 , 赵海玉 , 张培林 , 柳在健

液晶与显示 doi:10.3969/j.issn.1007-2780.2010.05.016

拍击位移量是液晶面板出现Touch Mura的根本原因,但因为玻璃基板的形变能够迅速回复,瞬时位移量难以检测.文章通过重压法模拟了拍击位移过程,发现随着液晶量的增加,最大位移量也增加,但同时回复能力大大增强,使得最终位移量反而变小.

关键词: 重压法 , Touch Mura , 模拟

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